Insplorion X1 (Optics unit single channel, X1 Temperature control unit, High Temperature Measurement chamber, Insplorer software)

SKU: X1

0,00 

SKU: X1 Kategoria:

Insplorion X1

Instrument Insplorion X1 został opracowany do badania procesów adsorpcji/absorpcji gazów i innych interakcji materiałowych, a także przemian fazowych (np. Tg) w cienkich warstwach polimerowych i materiałach istotnych dla katalizy in situ i w czasie rzeczywistym od temperatury otoczenia do 600°C.

Kluczowe cechy
X1 mierzy zmiany strukturalne i/lub dielektryczne praktycznie dowolnego nanomateriału lub cienkiej warstwy, zarówno dielektrycznej, jak i metalicznej, indukowane m.in. składem gazu lub rampami temperatury. Insplorion X1 wykorzystuje zdalny odczyt optyczny, dzięki czemu tylko chip czujnika musi być umieszczony w komorze reakcyjnej.

Ultraczułe pomiary w nanoskali
Monitoruj dynamiczne procesy w/na nanocząstkach, nanostrukturach lub cienkich warstwach, w skali nanometrowej, dziesiątkach nanometrów lub na ukrytym wewnętrznym interfejsie grubych powłok.

Zintegrowana kontrola przepływu gazu
System X1 można skonfigurować do współpracy z maksymalnie 16 kontrolerami przepływu masowego w celu precyzyjnej i terminowej kontroli mieszanki gazów i przepływu.

Analiza w czasie rzeczywistym
Mierz z rozdzielczością czasową poniżej sekundy.

Łatwy i solidny
Szybko rozpocznij pracę z oprogramowaniem Insplorer, które oferuje pełną kontrolę nad instrumentem.

Pomiary in-situ
Mierz w praktycznie odpowiednich warunkach w temperaturach do 600˚C.

System podwójnej próbki
Mierz jednocześnie na maksymalnie dwóch próbkach.

SPECYFIKACJA

Komora pomiarowa

Parametr Specyfikacja
Pozycja chipa sensora Pojedynczy lub podwójny kanał
Przyłącza Wlot 1/8 cala, wylot 1/4 cala
Regulacja przepływu masowego* Możliwość podłączenia do 16 regulatorów przepływu masowego (MFC)
Materiały Kwarc, stal nierdzewna
Zakres temperatury Od temperatury pokojowej do 600°C

* Nie zawiera w zestawie. Oprogramowanie Insplorer kompatybilne z regulatorami przepływu masowego firmy Bronkhorst.


Sensory

Parametr Specyfikacja
Wymiary 9,5 × 9,5 mm, grubość 1 mm
Podłoże Szkło kwarcowe (fused silica)
Powierzchnia Nanostrukturyzowane złoto
Standardowe powłoki* Au, SiO₂, Al₂O₃, TiO₂

* Możliwość zamówienia sensorów z niestandardowymi cienkimi powłokami.


Charakterystyka pomiarowa

Parametr Specyfikacja
Źródło światła* Lampa wolframowo-halogenowa, min. żywotność 2000 h
Średnica plamki pomiarowej 2 mm
Rozdzielczość czasowa** Do 10 punktów pomiarowych/s
Typowy poziom szumu < 0,01 nm (długość fali)
Zakres długości fali*** 450–1000 nm

* Dostępne opcje niestandardowe i części zamienne.
** Przy częstotliwości próbkowania 1 Hz.
*** Dostępne niestandardowe zakresy długości fali.


Wymiary (szer. × gł. × wys.)

Parametr Specyfikacja
Reaktor wysokotemperaturowy z osłoną bezpieczeństwa 28 × 28 × 100 cm
Jednostka optyczna Insplorion 25 × 27 × 9 cm
Jednostka kontroli temperatury (2 elementy) 25 × 27 × 9 cm oraz 22 × 40 × 9 cm

Oprogramowanie

Parametr Specyfikacja
Kompatybilne oprogramowanie Insplorer
System operacyjny Kompatybilny z Microsoft Windows
Format danych wyjściowych ASCII (kompatybilny z dowolnym oprogramowaniem do tworzenia wykresów)
Analizowane parametry Odczyt wieloparametrowy (np. długość fali rezonansowej i ekstynkcja w maksimum LSPR)

Insplorion oferuje dostęp dużej ilości not aplikacyjnych opisujących zastosowania systemów detekcji nanoplazmonicznej w różnych dziedzinach badań. Poniżej przedstawiamy wybrane noty aplikacyjne dotyczące różnych rodzajów badań rezonansów plazmonów. W celu zapoznania się ze wszystkimi dostępnymi notami aplikacyjnymi zachęcamy do odwiedzenia strony Insplorion.

Opis Noty aplikacyjne