Insplorion X1

Instrument Insplorion X1 został opracowany do badania procesów adsorpcji/absorpcji gazów i innych interakcji materiałowych, a także przemian fazowych (np. Tg) w cienkich warstwach polimerowych i materiałach istotnych dla katalizy in situ i w czasie rzeczywistym od temperatury otoczenia do 600°C.

Kluczowe cechy
X1 mierzy zmiany strukturalne i/lub dielektryczne praktycznie dowolnego nanomateriału lub cienkiej warstwy, zarówno dielektrycznej, jak i metalicznej, indukowane m.in. składem gazu lub rampami temperatury. Insplorion X1 wykorzystuje zdalny odczyt optyczny, dzięki czemu tylko chip czujnika musi być umieszczony w komorze reakcyjnej.

Ultraczułe pomiary w nanoskali
Monitoruj dynamiczne procesy w/na nanocząstkach, nanostrukturach lub cienkich warstwach, w skali nanometrowej, dziesiątkach nanometrów lub na ukrytym wewnętrznym interfejsie grubych powłok.

Zintegrowana kontrola przepływu gazu
System X1 można skonfigurować do współpracy z maksymalnie 16 kontrolerami przepływu masowego w celu precyzyjnej i terminowej kontroli mieszanki gazów i przepływu.

Analiza w czasie rzeczywistym
Mierz z rozdzielczością czasową poniżej sekundy.

Łatwy i solidny
Szybko rozpocznij pracę z oprogramowaniem Insplorer, które oferuje pełną kontrolę nad instrumentem.

Pomiary in-situ
Mierz w praktycznie odpowiednich warunkach w temperaturach do 600˚C.

System podwójnej próbki
Mierz jednocześnie na maksymalnie dwóch próbkach.

SPECYFIKACJA