Insplorion X2 XNano

Insplorion XNano jest wyposażony w elastyczną celę pomiarową, umożliwiającą pomiary zmian współczynnika załamania światła w czasie rzeczywistym zarówno w pomiarach przepływu gazu, jak i cieczy. XNano zapewnia użytkownikowi wszechstronny system, który sprawia, że wszystkie ekscytujące możliwości technologii Insplorion NPS są łatwo dostępne.

Kluczowe cechy
Modułowy system przyrządów Insplorion XNano daje możliwość badania procesów zachodzących w nanomateriałach lub na ich powierzchni oraz na stykach. Cela pomiarowa XNano jest bardzo elastyczna i kompatybilna zarówno z pomiarami fazy ciekłej, jak i gazowej w temperaturach do 80ºC. Zintegrowany system płynów upraszcza obsługę i dostarczanie próbek, minimalizuje ich zużycie i sprawia, że XNano szczególnie dobrze nadaje się do zastosowań w naukach przyrodniczych, naukach o polimerach i nanochemii. Bardzo duży zakres dynamiczny umożliwia badania z wysoką czułością procesów zarówno w cienkich warstwach, jak i na ukrytym wewnętrznym interfejsie grubych powłok powierzchniowych w zmiennych warunkach.

Prawdziwe pomiary w nanoskali
Monitoruj procesy w/na nanocząstkach, nanostrukturach i cienkich warstwach w zakresie kilkudziesięciu nm i na ukrytym wewnętrznym interfejsie grubych warstw.
Nadaje się do każdego materiału próbki
Badany nanomateriał może być miękki, twardy, metaliczny, ceramiczny, polimerowy, biomolekularny, porowaty, przewodzący lub izolujący.
Analiza w czasie rzeczywistym
Pomiar z rozdzielczością czasową poniżej sekundy
Kompletny system
System XNano obejmuje moduł optyczny, moduł kontroli temperatury, system obsługi cieczy, celę pomiarową i komputer stacjonarny z oprogramowaniem sterującym Insplorer®
Pomiary in-situ
Mierz w cieczy lub w powietrzu w wybranej temperaturze.

SPECYFIKACJA